IC測(cè)試座主要就是用於檢查在線的單個(gè)IC元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，俗稱導(dǎo)通測(cè)試，以及模擬器件作用和數(shù)字器件邏輯作用測(cè)試。

測(cè)試期間在惡劣的環(huán)境條件下能完全實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)規(guī)格書所規(guī)定的作用及性能指標(biāo)。是對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。

芯片測(cè)試座
芯片socket測(cè)試座采用手動(dòng)翻蓋式結(jié)構(gòu)、自動(dòng)化下壓式結(jié)構(gòu)、雙扣式壓合結(jié)構(gòu)，操作方便；翻蓋的上蓋IC壓板采用彈壓式結(jié)構(gòu)，能自動(dòng)調(diào)節(jié)下壓力，保證IC的壓力均勻。

測(cè)試座探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層，接觸可靠而不會(huì)損壞錫球。高精度的定位槽或?qū)蚩?，保證IC定位精確，生產(chǎn)效率高探針可更換，維修方便，成本低。